PA-300 應(yīng)力測(cè)試儀技術(shù)方案
一、項(xiàng)目背景
隨著智能手機(jī)曲面蓋板、車載光學(xué)玻璃、高精度光學(xué)鏡片等透明材料的廣泛應(yīng)用,其內(nèi)部應(yīng)力分布直接影響產(chǎn)品光學(xué)性能與結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。傳統(tǒng)應(yīng)力測(cè)試設(shè)備存在機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件誤差大、檢測(cè)效率低、全域掃描能力不足等問題。PA-300 系列應(yīng)力測(cè)試儀基于光子晶體偏光陣列技術(shù),實(shí)現(xiàn)納米級(jí)高精度應(yīng)力檢測(cè),可滿足高端透明材料規(guī)模化質(zhì)量管控需求。
二、儀器概述
PA-300 系列是專為曲面玻璃等透明材料設(shè)計(jì)的高精度應(yīng)力分布測(cè)量設(shè)備,核心優(yōu)勢(shì)在于融合光子晶體偏光陣列技術(shù)與雙折射增強(qiáng)算法,無需機(jī)械旋轉(zhuǎn)光學(xué)部件即可完成全場(chǎng)應(yīng)力掃描。設(shè)備可在幾秒內(nèi)生成可視化應(yīng)力分布云圖,相位差檢測(cè)精度達(dá) 0.001nm,應(yīng)力值換算范圍可擴(kuò)展至 0-200MPa,廣泛適配消費(fèi)電子、車載光學(xué)、精密光學(xué)等領(lǐng)域的樣品檢測(cè)需求。
三、核心技術(shù)原理
1. 光子晶體偏光陣列技術(shù):采用自產(chǎn)核心元件光子晶體偏光陣列片,替代傳統(tǒng)機(jī)械旋轉(zhuǎn)偏振片,同步采集斯托克斯分量,消除機(jī)械振動(dòng)導(dǎo)致的測(cè)量誤差,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的全域檢測(cè)。
2. 雙折射增強(qiáng)算法:針對(duì)透明材料低相位差特性,通過算法放大雙折射信號(hào),結(jié)合 520nm 綠光波段光源,實(shí)現(xiàn) 0-130nm 相位差的精準(zhǔn)捕捉與應(yīng)力值換算。
3. 全域同步掃描技術(shù):依托 500 萬像素偏振相機(jī)(2056×2464 pixels),實(shí)現(xiàn)視場(chǎng)范圍內(nèi)無死角掃描,掃描速度較傳統(tǒng)設(shè)備提升 10 倍以上。
四、系統(tǒng)組成
(一)光學(xué)系統(tǒng)
1. 光源模塊:采用 520nm 綠光波段穩(wěn)定光源,波長(zhǎng)波動(dòng)≤±2nm,確保檢測(cè)信號(hào)一致性。
2. 核心光學(xué)元件:自產(chǎn)光子晶體偏光陣列片,偏振度≥99.5%,適配曲面樣品檢測(cè)需求。
3. 成像單元:500 萬像素偏振相機(jī),幀率≥30fps,支持 Gige 接口高速數(shù)據(jù)傳輸。
4. 鏡頭配置:
? 標(biāo)準(zhǔn)鏡頭:視場(chǎng)覆蓋 30×36mm~360×480mm(分型號(hào)適配);
? 可選變焦鏡頭:5.5×6.6mm~25×30mm(PA-300/PA-300-L 適用)。
(二)電控系統(tǒng)
1. 主控單元:采用 ARM 架構(gòu)處理器,運(yùn)算速率≥1GHz,支持多線程數(shù)據(jù)處理。
2. 接口模塊:配備 Gige 相機(jī)接口、USB 3.0 數(shù)據(jù)接口、HDMI 顯示接口,兼容工業(yè)以太網(wǎng)組網(wǎng)。
3. 電源系統(tǒng):寬幅交流輸入(100~240V,50/60Hz),功率≤600W,具備過載保護(hù)功能。
(三)軟件系統(tǒng)
1. 核心功能:實(shí)時(shí)顯示相位差 / 應(yīng)力分布云圖、軸方位角檢測(cè)、數(shù)據(jù)趨勢(shì)分析。
2. 數(shù)據(jù)處理:支持應(yīng)力值自動(dòng)換算、均勻性判定(符合 SEMI P492 標(biāo)準(zhǔn))、報(bào)告導(dǎo)出(PDF/Excel 格式)。
3. 擴(kuò)展功能:可選視場(chǎng)校正、鏡頭分析、遠(yuǎn)程控制模塊,適配自動(dòng)化產(chǎn)線集成。
五、關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)
|
項(xiàng)目
|
PA-300 標(biāo)準(zhǔn)型
|
PA-300-L 型
|
PA-300-XL 型
|
|
相位差測(cè)量范圍
|
0-130nm
|
0-130nm
|
0-130nm
|
|
應(yīng)力值換算范圍
|
0-200MPa(可選)
|
0-200MPa(可選)
|
0-200MPa(可選)
|
|
重復(fù)精度
|
σ < 0.1nm
|
σ < 0.1nm
|
σ < 0.1nm
|
|
***小分辨率
|
0.001nm
|
0.001nm
|
0.001nm
|
|
全域均勻性判定
|
σ < 0.5nm(SEMI P492)
|
σ < 0.5nm(SEMI P492)
|
σ < 0.5nm(SEMI P492)
|
|
測(cè)量波長(zhǎng)
|
520nm(綠光波段)
|
520nm(綠光波段)
|
520nm(綠光波段)
|
|
標(biāo)準(zhǔn)鏡頭視場(chǎng)
|
30×36mm~100×133mm
|
37×44mm~240×320mm
|
242×290mm~360×480mm
|
|
設(shè)備尺寸(W×D×H)
|
430×487×max977mm
|
430×487×max1166mm
|
待確認(rèn)
|
|
設(shè)備重量
|
約 12kg
|
約 23kg
|
待確認(rèn)
|
|
測(cè)量速度
|
幾秒內(nèi)完成全場(chǎng)掃描
|
幾秒內(nèi)完成全場(chǎng)掃描
|
幾秒內(nèi)完成全場(chǎng)掃描
|
六、應(yīng)用場(chǎng)景
1. 消費(fèi)電子領(lǐng)域:智能手機(jī)曲面蓋板、智能手表玻璃表鏡的應(yīng)力分布檢測(cè),排查邊緣碎裂風(fēng)險(xiǎn)。
2. 車載光學(xué)領(lǐng)域:車載中控曲面屏、HUD 光學(xué)玻璃的應(yīng)力均勻性測(cè)試,保障高溫環(huán)境穩(wěn)定性。
3. 精密光學(xué)領(lǐng)域:?jiǎn)畏聪鄼C(jī)鏡頭、激光鏡片的低相位差檢測(cè),提升光學(xué)成像質(zhì)量。
七、安裝與調(diào)試
1. 環(huán)境要求:溫度 20±5℃,濕度≤60% RH,無強(qiáng)光直射及機(jī)械振動(dòng)。
2. 安裝流程:設(shè)備定位→光學(xué)系統(tǒng)校準(zhǔn)→軟件參數(shù)配置→標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定。
3. 調(diào)試指標(biāo):以標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)力片(已知相位差 50nm)校準(zhǔn),重復(fù)測(cè)量誤差需≤0.1nm。
八、售后服務(wù)
1. 質(zhì)保期:核心部件(光學(xué)系統(tǒng)、相機(jī))質(zhì)保 2 年,整機(jī)質(zhì)保 1 年。
2. 技術(shù)支持:提供現(xiàn)場(chǎng)安裝調(diào)試、操作培訓(xùn),7×24 小時(shí)遠(yuǎn)程故障排查。
3. 耗材供應(yīng):偏振片、光源等耗材提供原廠替換服務(wù),響應(yīng)周期≤3 個(gè)工作日。